SSD固态硬盘寿命检测方法



 

固态硬盘带给我们极快的读写速度，解决了传统的机械硬盘带给我们的问题 性能瓶颈，这也是计算机的未来趋势。 但是，一旦SSD损坏，它将使数据难以恢复，因此许多用户开始担心SSD的寿命。 那么固态驱动器如何衡量剩余寿命呢？ 以下安装的家庭共享SSD SSD寿命检测方法。  

 

 SSD固态硬盘寿命检测方法

 

 1，CrystalDiskInfo 

 

市面上很多固态硬盘工具都有生命检测功能，玩家一般都使用CrystalDiskInfo很难 磁盘检测工具，我们来看看如何检测固态驱动器的寿命。 我们打开了CrystalDiskInfo软件来检测英特尔中某种类型的固态硬盘。 在健康专栏中，我们检测到固体干燥剩余寿命的92％。  

 

固态驱动器的寿命实际上取决于NAND写入量。  NAND写入的数量受到主机的写入和写入放大的影响，但是许多SSD不提供NAND写入。 具体价值。  

 

 2，SSD供应商工具

 

但实际上，不同的硬盘检测工具，检测到的固态硬盘的剩余寿命也不同，我们使用英特尔固态硬盘工具来检测 固态驱动器的预期寿命，而终身价值仅为67％。  

 

 3，M.2 SSD寿命测试

 

开发到NVMe SSD后，SMART健康信息终于统一了标准。 下图显示了Toshiba RC100 240G NVMe SSD的CrystalDiskMark检测信息：健康状态由03 Available Spare可用的备用空间决定，备用块剩余100％，因此显示当前剩余寿命为100％  。  

 

使用Toshiba SSD Utility SSD工具箱，您可以看到RC100 NVMe SSD的运行状况为97％：

 

 97％此值基于主机写入。 校准的总SSD写入（TBW的百分比）显示在SMART信息05使用的百分比中。 下图显示了东芝RC100的TBW信息，该信息根据JEDEC标准计算，并且比实际家庭使用更强大，更严格。  

 

在NVMe SSD时代之后，不同硬盘检测软件对健康的测试结果仍然不同。 哪个结果更准确？ 小编认为，SSD供应商提供的工具箱软件测试相对科学。  

 

虽然基于固定TBW的百分比的计算是相对刚性的，但是通过备用块消耗的程度来估计寿命的方法更可靠。  

 

以上是已安装的家庭共享的SSD固态硬盘寿命测试方法。 不同工具测试的结果是正常的。 该值仅供参考。 我希望这篇文章可以帮助每个人。

这篇文章，是因为在测试的过程中看到了 SSD存在偶尔有性能下降的情况，经分析为S.M.A.R.T命令所导致，虽然这种情况看似不严重，但如果应用在诸如数据采集等关键性领域，有可能会导致丢失数据包的严重后果，当然，这个bug是可以修正的，先看图片：

S.M.A.R.T概述

S.M.A.R.T.（Self-Monitoring Analysis And Reporting Technology），意思为“自我检测分析与报告技术”，从名字也能看出其作用是故障预警，固态硬盘可以通过监测自身的健康状态，并将参数值反馈给监控软件或者操作系统，事实上，大部分的参数仅仅对工程师而言有意义，对于最终用户而言，只关注一些关键指标即可，如：新增坏块统计，剩余使用寿命，擦除次数等即可。

一些常用的测试软件也可以获取到SSD的S.M.A.R.T信息：

SSD主控厂商也会提供相应的工具：

经过多年HDD硬盘厂商的完善，S.M.A.R.T已经形成了一些标准，但对于SSD来说，大多数S.M.A.R.T都是自定义的，以至于每个厂商所提供的参数并不一致，但大体都会参考HDD S.M.A.R.T来设定。

 

SSD S.M.A.R.T信息保存在特定的区域中，由Firmware安排，有可能保存在OP区中，也有可能保存在任何FW工程师想要放置的地方，或者由单独的表来存放。

 

固态硬盘的S.M.A.R.T与HDD不完全相同，网络上常用的测试软件提供的S.M.A.R.T都是基于HDD设置的，SSD厂商通常会自行根据Nand Flash的特性设定S.M.A.R.T。

 

S.M.A.R.T各项参数释义

 

01 原始读取误码率Raw Read Error Rate

这项指标反馈了Nand Flash的初始健康状态，数据值包含了可校正的错误与不可校正错误；

 

09 通电时间累计 Power-On Hours

计量单位为小时，也可以以分钟、秒为计量单位，由SSD厂商自行定义，通常情况下活动、空闲和睡眠三种状态的时间都会被计算在内，有些SSD会通过一些电源管理功能的开启会将睡眠时间排除在外。此参数表示硬盘通电的累计时间，新硬盘当然应该接近0，但事实上SSD厂商在测试过程中已经使用数个小时甚至数十上百个小时，只是测试完毕后重新量产，参数又会归零。 

 

0C 通电周期计数 Power Cycle Count

通电周期计数的数据值表示了硬盘通电/断电的次数，即电源开关次数的累计，新硬盘通常只有几次。 

固态硬盘的通断电与HDD不同，SSD通常会做大量的P/E cycle测试，军工、工业类SSD还需要做大量的异常通断电测试，以防止在异常掉电的情况下丢失映射表以及规避其他因掉电导致不可靠的因素，兵哥公司通常会进行3000次到10000次的异常掉电测试，但是，测试完毕，会对SSD重新量产，Power Cycel Count会被清空，用户看到的仍然是少量的通电次数。

 

B8 初始坏块计数 Initial Bad Block Count

每个Nand Flash出厂时都会有初始坏块，固件通过扫描每个Block的第一个和最后一个page Spare Area区域的0xFF标记，如果没有0xFF标志，则表示为坏块，坏块由固件进行统一管理，列入坏块表。

初始坏块的数量可以从某种程度上反映SSD的初始健康状态，初始坏块越多，健康状态相对来说就越差。

 

C3 编程失败块计数 Program Failure Block Count

编程失败会将此page所在的Block列为坏块，这类的坏块称为新增坏块或者使用坏块，坏块会被列入坏块管理表，每个Block都存在一定的擦写寿命，当编程识别以及擦除失败时，都会被列入坏块表进行管理，对于数据安全要求很高的领域来说，一次编程失败或者擦除失败或者读取失败都可以将此块列为坏块。

对应下面C4，擦除失败块计数，同样道理。

 

C4 擦除失败块计数 Erase Failure Block Count

解释同C3

 

C5 读取失败块计数 Read Failure Block Count

解释同C3

 

CA flash总的bit错误统计 Total Count of Error bits from flash

这个统计包括了编程干扰（Program Disturb）错误，读取干扰错误（Read Disturb）和擦除错误，可纠正和不可纠正的错误bit总数。

这个值看上去会非常大，尤其是ECC能力较弱的SSD，值会更大，配合CB参数，可以大概判断此SSD的纠错能力，值越大，说明纠错能力越差。

 

CB 读取扇区可纠正bit错误统计 Total Count of Read Sectors with correctable bits errors

这个统计只包括已经纠正的错误bit数量，用CA-CB就可以得出不可纠正的错误数量，CA和CB的差异越大，说明SSD的纠错能力越弱，SSD的寿命也会更短。

 

CD 最大PE次数Maximum PE Count

这个参数是根据Nand Flash的datasheet来设定的，事实上，nand Flash的PE次数要比datasheet规定的多，例如：给出的值是3000，等真正的计数达到3000时，剩余寿命会显示为0，但实际上SSD的健康状态可能还非常好，所以，此参数只能做为最为保险使用的参考。

 

CE 最小擦除总数Minimum Erase Count

最大、最小和平均擦除总数描述每个Block的擦除次数，最大和最小擦除次数差别越小，说明磨损平衡算法做的越好，平均值没有任何意义。

 

CF 最大擦除总数Maximum Erase Count

见CE解释

 

D0 平均擦除总数Avage Erase Count

见CE解释

 

D1 剩余寿命Remaining Life（%）

这个参数显示SSD的剩余寿命，参考CD的描述可知这个值仅仅是个参考值

SAMSUNG 三星 T5 移动硬盘开箱图赏与轻度评测

前段时间看到训练营招募，随手点了申请，本来不抱有任何希望的，结果通过的审核。非常意外能加入值得买的新人训练营，感激之余也瞬间激起了分享的欲望。 

这段时间购买了很多的小玩物，挑出一个站内没人分享过的写一写。 

欢迎我们这次的主角————三星T5（2TB壕版）  

三星(SAMSUNG) T5系列 2TB 移动固态硬盘（MU-PA2T0B/CN）5399元京东去购买看百科

 当然，站内卧虎藏龙，实际上500GB版已经有两篇开箱了，这次我分享的是2TB版，目前站内还没有人分享哦～ 

购买理由

看过我之前分享的MBP周边产品的都知道，由于职业关系，我对于硬盘的速度和便携性有一定的要求，之前一直在使用的是：一块加了2.5寸硬盘盒的三星850EVO当移动硬盘。

老旧的移动固态硬盘

使用的是奥睿科的3.1Gen2的移动硬盘盒，美中不足的是亚克力外壳的设计，虽然大大提升了颜值，但经过多次使用后，表面磨损严重，变的很丑。

加上心仪很久三星的T5系列，这次终于没法忍了，舍弃磨损已久的旧硬盘，直接入手三星T5（2TB壕版）

外观展示

喜闻乐见的开箱图赏，多图预警

三星T5 2TB版

包装盒背面

包装盒顶部

包装盒侧面

这里要吐槽下三星哈，这么奢侈的一个玩意儿，给你包装的像是路边9.9元的耳机一样，我真是无语。

从盒子中抽出本体

脱出外衣后的硬盘本体真的好看

   

说明书在下层

随机附赠了两根线

这里三星是赠送了两根线缆，均是支持USB3.1（Gen2）协议的，给一个大大的赞 ，10Gbp/s的速度不是盖的。

C - C线缆，展开大搞30cm长

接口无镀金处理

A - C线缆，展开大约30cm长

接口无镀金处理

这里点评下附赠的线缆，线缆质量是可以保证的，但一些细微处仍然可以看到三星一贯的尿性。接口不给镀金，也没有使用一体成型的注塑技术，这么高昂的售价，节省这点成本真的需要吗？

阳极氧化后的金属外壳非常漂亮

硬盘背面有产品型号信息

顶部接口只有个C口

底部印刷有序列号以及容量大小

产品做工非常好，圆弧收腰的设计，阳极氧化的金属机身，握持感非常好，触手冰凉通透，仅51克的机身重量，却标着高达2TB的存储空间，让人不禁怀疑机身内部到底有没有东西。

接下来上几个对比图，首先与我们上一代的850EVO进行大小比较。

带硬盘壳的850明显比T5要胖一大圈

T5相当于850EVO带壳的一半大小

脱去硬盘壳后也是有明显的大小优势

T5略比850要厚上一些

这么观看好像不怎么明显，我们拿几个日常常见的东西进行一下比较

T5与小米充电宝对比大小

T5与15寸MacbookPro对比大小

 

速度测试

如果只是开箱晒物，那就没什么意思了。今天我们来对比下，三星T5与850EVO上壳后的速度差异，以及测试三星随机附赠的线缆的速度如何。

测试平台：MacbookPro15寸（2016）

测试工具：

• 
  

  三星T5

  
  


• 
  

  三星850EVO搭配奥睿科2.5寸亚克力C口移动硬盘盒

  
  


• 
  

  苹果家C-A母口转接头

  
  


• 
  

  贝尔金3.1Gen2 C-C线缆

  
  


• 
  

  三星T5随机附赠 C-C线缆

  
  


• 
  

  三星T5随机附赠 C-A线缆

  
  

通电后，顶部接口有隐藏蓝色LED灯设计

1、三星850EVO连接贝尔金3.1Gen2 C-C线缆的速度测试

读491.1MB/s；写462MB/s

2、三星T5连接贝尔金3.1Gen2 C-C线缆的速度测试

读505MB/s；写479.2MB/s

3、三星T5连接随机附赠3.1Gen2 C-C线缆的速度测试

读510.4MB/s；写485.5MB/s

4、三星T5连接随机附赠3.1Gen2 C-A线缆的速度测试

读508.4MB/s；写482.9MB/s

结果显示，读写速度上三星T5是略微胜出三星850EVO的。另外三星随机附赠的线缆直接打败贝尔金¥226一根的线缆。而且随机附赠了两根，简直是送了价值500的线缆，这么好的线缆质量，让我非常惊喜。

总结

总结下这款三星T5的优缺点，方便值友们进行选购。

优点：

1. 
   

   拥有500MB/s的超高读写速度

   
   


2. 
   

   优秀的体积和重量

   
   


3. 
   

   随机附赠的2根高速线缆（这点足以让苹果汗颜）

   
   


4. 
   

   漂亮的外观设计

   
   

缺点：

1. 
   

   高昂的售价

   
   


2. 
   

   包装盒设计很一般

   
   


3. 
   

   线缆接口和注塑设计非常普通

   
   

如果你对于移动硬盘的速度和便携性有一定要求的话（例如摄影师，影视后期等），这款三星T5固态移动硬盘是你的不二之选。漂亮的外观、优秀的性能，不仅让你工作效率更高，也能收获旁人羡慕的眼光（别问我怎么知道的 ）。 

 注：请通过实际需求购买硬盘规格，有250G、500G、1T、2T可选。买最合适自己的才是最好的！